21世(shi)紀發展的(de)(de)(de)理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池可廣泛應(ying)用于 3C 也被(bei)稱為手(shou)機(ji)、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆(bi)記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設(she)備等(deng)(deng)領域，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池具有(you)能量密度高(gao)、電(dian)(dian)(dian)壓高(gao)、壽命長、無記憶效應(ying)等(deng)(deng)優點，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池是(shi)容易因(yin)短路、過充等(deng)(deng)原因(yin)燒(shao)毀(hui)或爆炸，所以很危(wei)險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池測試是(shi)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池制造(zao)和組裝的(de)(de)(de)重要環節(jie)，是(shi)實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池性能和安全靠譜使用的(de)(de)(de)有(you)力(li)保障。3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池測試項目主要包括(kuo)一致性、功(gong)能性、安全性、可靠性和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓視頻在線觀看:pogopin探針模(mo)塊。通過比(bi)較兩者的優缺點，我們(men)可以更(geng)直(zhi)觀地區分哪一個更(geng)符(fu)合要求3C鋰電池測(ce)試要求。

　　從目前的(de)市場趨(qu)勢來看，3C電子(zi)產品內部空(kong)間集成度高，pitch不(bu)(bu)斷縮小，pogopin探針模組(zu)在小pitch該領域適應性(xing)差(cha)，只(zhi)能處理0.3mm-0.4mm之間的(de)pitch壽(shou)命和穩定性(xing)差(cha)。3C鋰(li)電池測試(shi)對電流的(de)需求很大，pogopin探針模塊能承載的(de)額(e)定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不(bu)(bu)同位(wei)衰減，導(dao)致連接不(bu)(bu)穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)(wei)針(zhen)模組無論是面(mian)(mian)對(dui)小(xiao)間(jian)距還是大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)，都有很(hen)(hen)好的(de)(de)應對(dui)方法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該(gai)領(ling)域(yu)，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)(wei)針(zhen)模塊(kuai)是可(ke)取(qu)的(de)(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能(neng)穩定(ding)可(ke)靠。面(mian)(mian)對(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)測試要求，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)(wei)針(zhen)模塊(kuai)可(ke)通過的(de)(de)額定(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)(da)到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾(ji)乎沒(mei)有電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)衰減，具(ju)有良好的(de)(de)連接功能(neng)，可(ke)以很(hen)(hen)大(da)(da)限(xian)度地保障3C鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池測試的(de)(de)穩定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用壽(shou)命(ming)(ming)而(er)言，pogopin探(tan)針模(mo)塊的試驗(yan)壽(shou)命(ming)(ming)在于5w大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)微針模(mo)組(zu)(zu)(zu)的試驗(yan)壽(shou)命(ming)(ming)約為20w以(yi)上，比較pogopin探(tan)針模(mo)塊整整多了四倍!況且pogo pin探(tan)針模(mo)塊為多組(zu)(zu)(zu)件結構(gou)，生(sheng)(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)(sheng)產(chan)難度(du)高(gao)，交貨期長;大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)微針模(mo)組(zu)(zu)(zu)是(shi)一種集成(cheng)彈(dan)片(pian)結構(gou)，輕、扁平(ping)，可(ke)根(gen)據客戶要求定制，生(sheng)(sheng)產(chan)難度(du)低，交貨期短。相比之下(xia)，通大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)微針模(mo)組(zu)(zu)(zu)的成(cheng)本性能并不太高(gao)!

　　對比母(mu)座測(ce)(ce)(ce)試良率，pogopin針對探針模(mo)塊BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)母(mu)座幾乎無法(fa)實(shi)現，穩定(ding)性(xing)極(ji)差。大部分采用觸摸(mo)方(fang)案對應，母(mu)座測(ce)(ce)(ce)試良率不(bu)到80%;母(mu)座上(shang)有(you)一(yi)種特別的通(tong)大電流(liu)彈(dan)片(pian)微針模(mo)組對應方(fang)法(fa)。將斜(xie)口型(也稱尖頭型)彈(dan)片(pian)頭插入連接(jie)(jie)器(qi)(qi)內端子，以(yi)保(bao)持一(yi)定(ding)的開度，從而保(bao)障彈(dan)片(pian)的接(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)端子兩(liang)側保(bao)持接(jie)(jie)觸狀態，使測(ce)(ce)(ce)試穩定(ding)，母(mu)座測(ce)(ce)(ce)試良率達到99.8%。

　　大電流彈(dan)片(pian)微針模組測試效率高，穩定性好。與同一產(chan)(chan)品測試前后(hou)相比，連(lian)接器基(ji)本上看不到刺痕(hen)，不會對產(chan)(chan)品造成任何損壞pogo pin電池測試模塊更值得選擇(ze)和信賴。