我(wo)們常看到的(de)一些3C產(chan)品，里面都有安裝鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)具(ju)有高能量(liang)密度、高電(dian)壓、壽命長、無(wu)記憶效應等優點(dian)，是21世紀發展的(de)理想電(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)可廣(guang)泛(fan)應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)腦、筆記本電(dian)腦、可穿戴設備等領域3C鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)容(rong)易因短路、過充等原因燒毀或爆炸，所(suo)以很危險(xian)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)制造和組裝的(de)重要環節，是實現鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)性(xing)能和安全(quan)靠譜(pu)使用的(de)有力(li)保障，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測試項目主要包括一致性(xing)、功能性(xing)、安全(quan)性(xing)、靠譜(pu)性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電(dian)池(chi)測(ce)試對電(dian)池(chi)測(ce)試模(mo)塊(kuai)的(de)選擇(ze)很重要(yao)。目前市(shi)場上廣(guang)泛使用(yong)的(de)電(dian)池(chi)測(ce)試模(mo)塊(kuai)有兩種(zhong)，一(yi)種(zhong)是(shi)凱智通大電(dian)流彈(dan)片(pian)微針模(mo)塊(kuai)，另一(yi)種(zhong)是(shi)pogo pin探針模(mo)塊(kuai)。通過比較兩者的(de)優缺點，我們可以更(geng)直觀地區(qu)分哪(na)一(yi)個更(geng)符合要(yao)求(qiu)3C鋰電(dian)池(chi)測(ce)試要(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓視頻在線觀看:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面(mian)對(dui)小間距還是大電(dian)(dian)(dian)流(liu)，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊都有(you)很(hen)好的應(ying)對(dui)方法。pitch在該領域，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊是可(ke)(ke)取的pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定(ding)(ding)靠譜。面(mian)對(dui)大電(dian)(dian)(dian)流(liu)測試要求，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊可(ke)(ke)通過(guo)的額定(ding)(ding)電(dian)(dian)(dian)流(liu)大到50A，在1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒(heng)定(ding)(ding)，幾乎沒(mei)有(you)電(dian)(dian)(dian)流(liu)衰減，具有(you)良好的連接功能，可(ke)(ke)以很(hen)大限(xian)度地保障(zhang)3C鋰電(dian)(dian)(dian)池測試的穩定(ding)(ding)性(xing)。

　　就(jiu)使用壽命(ming)而(er)言(yan)，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的試驗(yan)壽命(ming)在于5w大電流彈(dan)(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的試驗(yan)壽命(ming)約為20w以上，比較pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)整(zheng)整(zheng)多了四倍！pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)為多組件結(jie)構，生產工(gong)藝復雜，生產難度(du)高(gao)，交貨(huo)周(zhou)期長；大型電流彈(dan)(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)為一體化彈(dan)(dan)片(pian)結(jie)構，輕、扁平，可(ke)根(gen)據(ju)客戶要求定制，生產難度(du)低(di)，交貨(huo)周(zhou)期短。相比之下，大型電流彈(dan)(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的成本(ben)性能并不太高(gao)！

　　對(dui)比母(mu)(mu)(mu)座測(ce)試良率(lv)，pogopin探針模組針對(dui)BTB連接(jie)(jie)(jie)器(qi)母(mu)(mu)(mu)座幾乎無法(fa)實現，穩定性(xing)極差(cha)。大(da)部分采用觸摸(mo)方(fang)案對(dui)應(ying)，母(mu)(mu)(mu)座測(ce)試良率(lv)不到80%；母(mu)(mu)(mu)座上有一種(zhong)特別的(de)大(da)電(dian)流彈(dan)片微針模塊對(dui)應(ying)方(fang)法(fa)。將斜口(kou)型（也稱尖頭型）彈(dan)片頭插入(ru)連接(jie)(jie)(jie)器(qi)內(nei)端子(zi)，以保(bao)(bao)持一定的(de)開度，從而保(bao)(bao)障彈(dan)片的(de)接(jie)(jie)(jie)觸面(mian)和接(jie)(jie)(jie)觸面(mian)BTB連接(jie)(jie)(jie)器(qi)端子(zi)兩側保(bao)(bao)持接(jie)(jie)(jie)觸狀態，使測(ce)試穩定，母(mu)(mu)(mu)座測(ce)試良率(lv)高達99.8%。

　
　大(da)電流彈片微針模塊測(ce)試效(xiao)率高，穩定性(xing)好(hao)。與(yu)同一產品測(ce)試前后(hou)相比，連接器基本上看(kan)不到(dao)刺痕，不會對產品造成任何損壞pogopin探針電池(chi)測(ce)試模塊更(geng)值得選擇和信(xin)賴。