21世紀發(fa)展的(de)理想(xiang)電(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)(chi)可廣(guang)泛應用于 3C 也被稱為手(shou)機、平板電(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)腦、可穿戴設備等(deng)領域，鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)(chi)具有能量密度高、電(dian)(dian)壓高、壽(shou)命長、無記(ji)憶效應等(deng)優點，3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)(chi)是(shi)容(rong)易因(yin)(yin)短路、過充等(deng)原(yuan)因(yin)(yin)燒毀或(huo)爆炸(zha)，所以很危險(xian)3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)(chi)測試是(shi)鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)(chi)制造和(he)組裝的(de)重要(yao)環節(jie)，是(shi)實現鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)(chi)性(xing)(xing)能和(he)安全(quan)靠(kao)譜使用的(de)有力保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)(chi)測試項目主要(yao)包(bao)括一致性(xing)(xing)、功能性(xing)(xing)、安全(quan)性(xing)(xing)、可靠(kao)性(xing)(xing)和(he)工況(kuang)模(mo)擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓視頻在線觀看:pogopin探針模塊。通過比較兩者的優缺點，我們可以更直觀地區(qu)分(fen)哪一個更符合要求3C鋰電(dian)池測(ce)試要求。

　　從目前的(de)市場趨勢來(lai)看，3C電(dian)(dian)子產品內部空間集成度(du)高，pitch不(bu)(bu)(bu)斷縮小，pogopin探(tan)針模(mo)組在小pitch該領域適應性差(cha)，只能(neng)處理0.3mm-0.4mm之(zhi)間的(de)pitch壽命和穩(wen)定性差(cha)。3C鋰電(dian)(dian)池測試對電(dian)(dian)流(liu)的(de)需求很大，pogopin探(tan)針模(mo)塊(kuai)能(neng)承(cheng)載的(de)額定電(dian)(dian)流(liu)僅(jin)為1A，在傳輸過程中，電(dian)(dian)流(liu)會(hui)在不(bu)(bu)(bu)同位(wei)衰(shuai)減，導致連接不(bu)(bu)(bu)穩(wen)定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)組無論(lun)是(shi)面對小間距(ju)還是(shi)大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流，都有很好的(de)應對方法。在(zai)小pitch在(zai)該(gai)領(ling)域(yu)，大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊(kuai)是(shi)可(ke)取(qu)的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能(neng)穩定可(ke)靠。面對大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流測試要求，大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊(kuai)可(ke)通過的(de)額定電(dian)(dian)(dian)(dian)流大(da)到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)(dian)阻恒定，幾(ji)乎沒(mei)有電(dian)(dian)(dian)(dian)流衰減，具有良好的(de)連(lian)接功(gong)能(neng)，可(ke)以很大(da)限(xian)度地(di)保障3C鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池測試的(de)穩定性。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽命(ming)(ming)而言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模塊(kuai)的試驗(yan)(yan)壽命(ming)(ming)在于5w大(da)電(dian)流(liu)彈片微針(zhen)(zhen)(zhen)模組(zu)的試驗(yan)(yan)壽命(ming)(ming)約為(wei)20w以(yi)上，比較pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模塊(kuai)整整多(duo)了四(si)倍!況且pogo pin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模塊(kuai)為(wei)多(duo)組(zu)件(jian)結構，生產(chan)工藝復雜，生產(chan)難度高，交(jiao)貨期(qi)長;大(da)電(dian)流(liu)彈片微針(zhen)(zhen)(zhen)模組(zu)是一(yi)種集成彈片結構，輕、扁平，可根據客戶(hu)要求定制，生產(chan)難度低(di)，交(jiao)貨期(qi)短。相(xiang)比之下，通大(da)電(dian)流(liu)彈片微針(zhen)(zhen)(zhen)模組(zu)的成本性(xing)能并不太高!

　　對比母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試(shi)(shi)(shi)良率(lv)，pogopin針(zhen)對探針(zhen)模(mo)塊BTB連接(jie)(jie)(jie)(jie)器母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)幾乎無法實(shi)現，穩定(ding)性極差。大部分采(cai)用觸摸(mo)方案(an)對應(ying)，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試(shi)(shi)(shi)良率(lv)不到(dao)(dao)80%;母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)上有(you)一種特別的通大電流彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)對應(ying)方法。將斜口型(也稱尖頭型)彈(dan)片頭插入(ru)連接(jie)(jie)(jie)(jie)器內(nei)端子，以保持(chi)一定(ding)的開度(du)，從(cong)而保障彈(dan)片的接(jie)(jie)(jie)(jie)觸面(mian)和(he)接(jie)(jie)(jie)(jie)觸面(mian)BTB連接(jie)(jie)(jie)(jie)器端子兩側保持(chi)接(jie)(jie)(jie)(jie)觸狀態(tai)，使測試(shi)(shi)(shi)穩定(ding)，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試(shi)(shi)(shi)良率(lv)達到(dao)(dao)99.8%。

　　大電流彈(dan)片微(wei)針(zhen)模組測試效率高，穩定(ding)性好。與同一產品測試前(qian)后相比，連(lian)接器基本上(shang)看不(bu)到刺痕，不(bu)會對(dui)產品造成(cheng)任何損壞pogo pin電池測試模塊更值得選擇和信賴。